目前隨著分析技術(shù)的不斷發(fā)展，X熒光光譜儀分析的應(yīng)用越來(lái)越普遍。x射線(xiàn)熒光光譜在水泥生產(chǎn)中一般使用分析壓片方法，它有很多優(yōu)點(diǎn)，如操作簡(jiǎn)單、分析速度快、成本低等。但是因?yàn)樗嘣系V物的成分及結(jié)構(gòu)復(fù)雜，還有X射線(xiàn)熒光光譜儀本身測(cè)量的影響等，都會(huì)對(duì)檢測(cè)結(jié)果有影響。下面創(chuàng)想小編再來(lái)展開(kāi)說(shuō)下。
(1)標(biāo)樣選取代表性不夠；
(2)樣品的制作過(guò)程與標(biāo)樣不一致，如粉磨粒度不同、助磨劑的加入量不一致等帶來(lái)引起測(cè)量的誤差；
(3)樣片表面不清潔，有裂痕、樣片厚度與標(biāo)樣不一致等也會(huì)給分析帶來(lái)影響
(4)基體效應(yīng)，水泥工業(yè)中的原料都是一些不均勻粉末、來(lái)源不同的原料，其粒度、成分、礦物形態(tài)以及元素的干擾嚴(yán)重，基體效應(yīng)是影響XRF分析度的大因素?；w效應(yīng)主要有三種情況：①顆粒效應(yīng) ②礦物效應(yīng) ③元素間效應(yīng)
創(chuàng)想X熒光光譜儀
在上述各種影響因素中，帶來(lái)誤差的主要原因還是基體效應(yīng)?；w效應(yīng)是礦物的本身帶來(lái)的影響，礦物的成分和礦物結(jié)構(gòu)或形態(tài)直接關(guān)系顆粒效應(yīng)、礦物效應(yīng)、元素間干擾效應(yīng)。因此我們還需研究原料礦物的成分和形態(tài)對(duì)XRF測(cè)試的影響，爭(zhēng)取從根本上減小測(cè)量誤差、提高度的方法，對(duì)水泥質(zhì)量控制提供一定的理論支撐，這是一件很有工業(yè)和現(xiàn)實(shí)意義的事情。