X射線熒光光譜（XRF）作為一種高效的無損分析技術(shù)，其檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性高度依賴于樣品制備質(zhì)量。本文針對XRF分析中的制樣要點(diǎn)展開探討，為實(shí)驗(yàn)人員提供標(biāo)準(zhǔn)化操作參考。
一、制樣方法分類
根據(jù)樣品形態(tài)差異，常規(guī)制樣分為三類：金屬樣品需經(jīng)切割、研磨、拋光處理，確保表面粗糙度＜5μm；粉末樣品需經(jīng)烘干、研磨至200目以上，采用硼酸鑲邊壓片法成型；液體樣品需保證均勻性，避免揮發(fā)性物質(zhì)逸散。特殊樣品如鍍層材料需制備截面，熔融法則適用于非均質(zhì)樣品的玻璃化處理。
二、關(guān)鍵控制參數(shù)
污染控制：使用碳化鎢研磨工具時(shí)需校正鎢元素干擾，全程佩戴無粉手套；
粒徑控制：粉末樣品需通過激光粒度儀驗(yàn)證，D50值應(yīng)≤50μm；
厚度要求：壓片樣品厚度需超過X射線穿透深度的3倍，金屬薄片建議＞1mm；
標(biāo)準(zhǔn)樣品：必須與待測樣在基體匹配性、粒徑分布上保持高度一致。
三、標(biāo)準(zhǔn)化流程建議
建立"樣品預(yù)處理-制樣操作-質(zhì)量驗(yàn)證"三級控制體系。預(yù)處理階段嚴(yán)格執(zhí)行干燥（105℃±5℃恒溫2h）和除塵；制樣環(huán)節(jié)采用液壓機(jī)（壓力≥30T）保壓60秒；質(zhì)量驗(yàn)證包含表面平整度檢測（白光干涉儀）和重復(fù)性測試（RSD＜2%）。
創(chuàng)想X熒光光譜儀
XRF制樣既是技術(shù)也是藝術(shù)，需在標(biāo)準(zhǔn)化的框架下靈活應(yīng)對樣品特性。通過建立科學(xué)的制樣規(guī)程，可顯著提升檢測數(shù)據(jù)的可靠性，為材料成分分析提供堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。實(shí)驗(yàn)室應(yīng)根據(jù)自身檢測需求建立制樣SOP文件，定期開展制樣比對試驗(yàn)以保證結(jié)果一致性。